微量分析天平的基本原理和使用

微量分析天平是一種高精度的測量設(shè)備，專門設(shè)計(jì)用于測量微小質(zhì)量的天平，廣泛應(yīng)用于需要高精度稱量的領(lǐng)域，主要用于測量非常微小的質(zhì)量值，通常具有高精度和高靈敏度。

 

基本原理：

微量天平通過電磁力平衡原理工作，利用縣掛點(diǎn)的彈性力與電磁力相平衡來測量物體的質(zhì)量。具體來說，當(dāng)被測物體放置在天平的秤盤上時，天平的傳感器會產(chǎn)生形變，這個形變通過杠桿機(jī)構(gòu)傳遞到磁鋼，磁鋼產(chǎn)生位移又引起磁感應(yīng)強(qiáng)度變化，進(jìn)而改變線阻抗，導(dǎo)致電路電流變化。這個電流的變化值與被測物體的質(zhì)量成正比，通過測量這個電流的變化量，就可以得到被測物體的質(zhì)量值。

 

選購：

根據(jù)實(shí)際需求選擇合適的精度和量程。

考慮天平的穩(wěn)定性、重復(fù)性、易用性等因素。

選擇品牌可靠的供應(yīng)商，確保產(chǎn)品質(zhì)量和售后服務(wù)。

使用：

將天平放置在穩(wěn)定的工作臺上，避免振動或氣流影響。

避免被測物體受到額外壓力或摩擦力，以免影響測量結(jié)果。

遵循先開天平后加物的原則，避免損壞天平的傳感器或測量系統(tǒng)。

定期清潔天平的秤盤和傳感器保持基清潔干燥。